粗糙度測(cè)量 / 激光顯微鏡

僅需在設(shè)置好樣品后單擊即可自動(dòng)測(cè)量的激光顯微鏡。具有1臺(tái)即可覆蓋光學(xué)顯微鏡到SEM領(lǐng)域的觀察力、瞬間準(zhǔn)確掃描各種目標(biāo)物形狀的測(cè)量力、豐富的分析工具等特點(diǎn)，可滿足觀察、測(cè)量、分析等各種需求。

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產(chǎn)品陣容

VK-X3000 系列 - 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng)

采用了三重掃描方式，運(yùn)用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，高倍率和低倍率，平面、凹凸表面的細(xì)微粗糙度，以及鏡面體，透明體等。VK擁有應(yīng)對(duì)多種樣品的測(cè)量能力（從 1 nm 到 50 mm），納米/微米/毫米一臺(tái)完成測(cè)量。

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